磁性元件分析仪简介
磁性元件分析仪使用汞侵入法来测定总孔体积、孔径分布、孔隙率、密度和传输性。内置强大的数据处理和报告程序包，快速升压、灵活、可控的真空系统，和高性能的低/高压系统。
技术特点
· 孔径范围：0.003到 1000 µm
· 磁性元件分析仪可选择2个低压站和1个高压站或者4个低压站和2个高压站，以满足多种样品的检测
· 防护性能高更，即使在高压和有毒的物质汞环境下仍可放心使用
· 可选择压力33,000 psi或者压力60,000 psi型号
· 低噪音，高压系统
· 增强的数据处理包，包括弯曲度、渗透性、压缩系数、孔喉比、分形维数，Mayer-Stowe粒径分布等
· 可进行扫描模式或速率平衡模式操作
· 收集极高分辨率的数据; 进汞或退汞体积精度优于0.1μL
· 封闭式汞系统 –用汞量低
产品应用
压汞仪用来测定粉末和固体重要的物理特性，如孔径分布、总孔体积、总孔表面积、中值孔径、样品的密度（真密度和堆密度）、流体导电性和机械性能。
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