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产品简介
稳科WK6500B精密阻抗测试仪
WK6500B系列稳科精密介电常数测试仪: 1J6505B 20Hz~5MHz 1J6510B 20Hz~10MHz 1J6515B 20Hz~15MHz 1J6520B 20Hz~20MHz 1J6530B 20Hz~30MHz
WK6500B系列深圳稳科精密介电常数测试仪
WK6500B系列稳科精密介电常数测试仪:1J6505B 20Hz~5MHz 1J6510B 20Hz~10MHz 1J6515B 20Hz~15MHz 1J6520B 20Hz~20MHz 1J6530B 20Hz~30MHz 1J6550B 20Hz~50MHz 1J65120B 20Hz~120MHz
WK6505B精密阻抗测试仪5MHz
WK6505B精密阻抗测试仪5MHz 简易的TFT触屏操作,10分钟内轻易上手 电介质、压电片及石英晶体测试解决方案 30 ms超高速测试速度 等效Rdc ,量测到0.01mΩ 0.05%基本**度 可内建0-100mA +/- 40V,外加可至60A DC Bias 可将测试波形储存成CSV格式,放大、缩小及MA...
WK6510B精密阻抗测试仪10MHz
WK6510B精密阻抗测试仪10MHz 简易的TFT触屏操作,10分钟内轻易上手 电介质、压电片及石英晶体测试解决方案 30 ms超高速测试速度 等效Rdc ,量测到0.01mΩ 0.05%基本**度 可内建0-100mA +/- 40V,外加可至60A DC Bias 可将测试波形储存成CSV格式,放大、缩小及M...
WK6515B精密阻抗测试仪15MHz
WK6515B精密阻抗测试仪15MHz 简易的TFT触屏操作,10分钟内轻易上手 电介质、压电片及石英晶体测试解决方案 30 ms超高速测试速度 等效Rdc ,量测到0.01mΩ 0.05%基本**度 可内建0-100mA +/- 40V,外加可至60A DC Bias 可将测试波形储存成CSV格式,放大、缩小及M...
WK6520B精密阻抗测试仪20MHz
WK6520B精密阻抗测试仪20MHz 简易的TFT触屏操作,10分钟内轻易上手 电介质、压电片及石英晶体测试解决方案 30 ms超高速测试速度 等效Rdc ,量测到0.01mΩ 0.05%基本**度 可内建0-100mA +/- 40V,外加可至60A DC Bias 可将测试波形储存成CSV格式,放大、缩小及M...
WK6530B精密阻抗测试仪30MHz
WK6530B精密阻抗测试仪30MHz 简易的TFT触屏操作,10分钟内轻易上手 电介质、压电片及石英晶体测试解决方案 30 ms超高速测试速度 等效Rdc ,量测到0.01mΩ 0.05%基本**度 可内建0-100mA +/- 40V,外加可至60A DC Bias 可将测试波形储存成CSV格式,放大、缩小及M...
WK6550B精密阻抗测试仪50MHz
WK6550B精密阻抗测试仪50MHz 简易的TFT触屏操作,10分钟内轻易上手 电介质、压电片及石英晶体测试解决方案 30 ms超高速测试速度 等效Rdc ,量测到0.01mΩ 0.05%基本**度 可内建0-100mA +/- 40V,外加可至60A DC Bias 可将测试波形储存成CSV格式,放大、缩小及M...
WK65120B阻抗分析仪120MHz阻抗测试仪
WK65120B精密阻抗分析仪120MHz 简易的TFT触屏操作,10分钟内轻易上手 电介质、压电片及石英晶体测试解决方案 30 ms超高速测试速度 等效Rdc ,量测到0.01mΩ 0.05%基本**度 可内建0-100mA +/- 40V,外加可至60A DC Bias 可将测试波形储存成CSV格式,放大、缩小及...
WK4100系列LCR测试1MHz
41100频率范围20Hz~1MHz 双频测试,四项参数显示 0.1% 基本**度,266PCS/分产量~540PCS/分 测试参数:Z, Rac, C, D, L, Q, B, G, X, Y, Rdc
WK4100系列LCR测试500kHz
4150频率范围20Hz~500kHz 双频测试,四项参数显示 0.1% 基本**度,266PCS/分产量~540PCS/分 测试参数:Z, Rac, C, D, L, Q, B, G, X, Y, Rdc
WK4100系列LCR测试200kHz
4120频率范围20Hz~200kHz 双频测试,四项参数显示 0.1% 基本**度,266PCS/分产量~540PCS/分 测试参数:Z, Rac, C, D, L, Q, B, G, X, Y, Rdc
WK4100系列LCR测试100kHz
4110频率范围20Hz~100kHz 双频测试,四项参数显示 0.1% 基本**度,266PCS/分产量~540PCS/分 测试参数:Z, Rac, C, D, L, Q, B, G, X, Y, Rdc
6500P系列高频LCR测试仪120MHz
1J65120P 频率范围 20Hz ~ 120MHz 0.05%基本**度,频率分辨率≤1mHz 内置交流信号:10mV ~ 1Vrms,200μA~20mArms 电容(C), 电感(L), 电阻(R), 电导(G), 电纳(B), 电抗(X), 损耗因数(D), 品质因数(Q), 阻抗(Z), 导纳(Y), 相位角(θ)、介电常数(ε′ 𝑟相...
6500P系列高频LCR测试仪50MHz
1J6550P 频率范围 20Hz ~ 50MHz 0.05%基本**度,频率分辨率≤1mHz 内置交流信号:10mV ~ 1Vrms,200μA~20mArms 电容(C), 电感(L), 电阻(R), 电导(G), 电纳(B), 电抗(X), 损耗因数(D), 品质因数(Q), 阻抗(Z), 导纳(Y), 相位角(θ)、介电常数(ε′ 𝑟相对...
6500P系列高频LCR测试仪30MHz
1J6530P 频率范围 20Hz ~ 30MHz 0.05%基本**度,频率分辨率≤1mHz 内置交流信号:10mV ~ 1Vrms,200μA~20mArms 电容(C), 电感(L), 电阻(R), 电导(G), 电纳(B), 电抗(X), 损耗因数(D), 品质因数(Q), 阻抗(Z), 导纳(Y), 相位角(θ)、介电常数(ε′ 𝑟相对...
6500P系列高频LCR测试仪20MHz
1J6520P 频率范围 20Hz ~ 20MHz 0.05%基本**度,频率分辨率≤1mHz 内置交流信号:10mV ~ 1Vrms,200μA~20mArms 电容(C), 电感(L), 电阻(R), 电导(G), 电纳(B), 电抗(X), 损耗因数(D), 品质因数(Q), 阻抗(Z), 导纳(Y), 相位角(θ)、介电常数(ε′ 𝑟相对...
6500P系列高频LCR测试仪15MHz
1J6515P 频率范围 20Hz ~ 15MHz 0.05%基本**度,频率分辨率≤1mHz 内置交流信号:10mV ~ 1Vrms,200μA~20mArms 电容(C), 电感(L), 电阻(R), 电导(G), 电纳(B), 电抗(X), 损耗因数(D), 品质因数(Q), 阻抗(Z), 导纳(Y), 相位角(θ)、介电常数(ε′ 𝑟相对...
6500P系列高频LCR测试仪10MHz
1J6510P 频率范围 20Hz ~ 10MHz 0.05%基本**度,频率分辨率≤1mHz 内置交流信号:10mV ~ 1Vrms,200μA~20mArms 电容(C), 电感(L), 电阻(R), 电导(G), 电纳(B), 电抗(X), 损耗因数(D), 品质因数(Q), 阻抗(Z), 导纳(Y), 相位角(θ)、介电常数(ε′ 𝑟相对...
6500P系列高频LCR测试仪5MHz
1J6505P 频率范围 20Hz ~ 5MHz 0.05%基本**度,频率分辨率≤1mHz 内置交流信号:10mV ~ 1Vrms,200μA~20mArms 电容(C), 电感(L), 电阻(R), 电导(G), 电纳(B), 电抗(X), 损耗因数(D), 品质因数(Q), 阻抗(Z), 导纳(Y), 相位角(θ)、介电常数(ε′ 𝑟相对介...
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